反射式掃描測(cè)試靶

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-12-20
產(chǎn)品介紹：反射式掃描測(cè)試靶可用來(lái)測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
在線留言

產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
組件類別	光學(xué)元件	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,電子/電池

反射式掃描測(cè)試靶

符合ISO 16067-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

可用來(lái)測(cè)試數(shù)字掃描系統(tǒng)

反射式掃描測(cè)試靶可用來(lái)測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。

標(biāo)題	產(chǎn)品編碼
ISO-16067-1 反射式掃描儀測(cè)試目標(biāo)板	#58-196

反射式掃描測(cè)試靶

符合ISO 16067-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

可用來(lái)測(cè)試數(shù)字掃描系統(tǒng)

反射式掃描測(cè)試靶可用來(lái)測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。

標(biāo)題	產(chǎn)品編碼
ISO-16067-1 反射式掃描儀測(cè)試目標(biāo)板	#58-196

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說(shuō)明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：Spectralon®白平衡和漫反射目標(biāo)板

反射式掃描測(cè)試靶

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說(shuō)明：

驗(yàn)證碼：